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就和性能測(cè)試要給出測(cè)試軟件以及相關(guān)硬件參數(shù)一樣,溫度測(cè)試則要給出測(cè)試環(huán)境。我們這次的測(cè)試在開放的環(huán)境中進(jìn)行,參測(cè)硬盤并沒有放置在機(jī)箱的硬盤倉(cāng)位中。當(dāng)然受限于SATA數(shù)據(jù)線和電源線的長(zhǎng)度,參測(cè)硬盤也不會(huì)離機(jī)箱太遠(yuǎn)。因此,本次測(cè)試的成績(jī)會(huì)比實(shí)際使用中低一些。當(dāng)然,他們之間的差異顯然是我們這次所更為關(guān)注的。
本次我們所使用的測(cè)試平臺(tái)如下,相比前幾次有了略微的變化,但是并不會(huì)對(duì)最終的對(duì)比成績(jī)有太多影響。此外,本次測(cè)試也并沒有使用太多的關(guān)于能耗比的測(cè)試軟件,畢竟真實(shí)的應(yīng)用環(huán)境測(cè)得的數(shù)據(jù)來(lái)得更加直觀。
只要平臺(tái)固定,功耗測(cè)試可以很簡(jiǎn)單地進(jìn)行。這次測(cè)試使用了一臺(tái)家用“電腦測(cè)試儀”,它可以很好地顯示出當(dāng)前整機(jī)的功率。不過(guò)限于電源的穩(wěn)定性以及系統(tǒng)狀態(tài),功率總會(huì)出現(xiàn)一定程度的波動(dòng),因此本次進(jìn)行的功耗測(cè)試也僅供參考。
至于測(cè)試計(jì)劃,給出各個(gè)硬盤在限制和滿載時(shí)的溫度和功耗結(jié)果自然是最簡(jiǎn)單的。事實(shí)上這只是一個(gè)靜態(tài)的參考值。為了更加真實(shí)并準(zhǔn)確地反映出幾種硬盤在溫度方面的表現(xiàn),筆者采用了跟蹤測(cè)試,并最終通過(guò)折線圖的方式給出結(jié)果。