KIST開(kāi)發(fā)使用太赫茲波檢查OLED發(fā)射器的無(wú)損方法

    據(jù)韓國(guó)媒體報(bào)道，韓國(guó)科學(xué)技術(shù)研究院 (KIST)的研究人員提出了一種使用太赫茲波光譜檢查OLED發(fā)射器材料的新方法。

    研究人員表示，這種方法可用于分析OLED的傳輸特性，而不會(huì)對(duì)材料造成任何損壞。這與當(dāng)前的熒光測(cè)試方法不同，因?yàn)樽贤饩�會(huì)改變其特性，從而對(duì)OLED造成損害。

    更準(zhǔn)確的檢測(cè)方法可以幫助開(kāi)發(fā)人員提高OLED材料的性能，因其可以比現(xiàn)有方法更準(zhǔn)確地分析OLED設(shè)備的性能退化。