ATEN宏正助力某半導體廠測試車間集中控管

    行業(yè)背景

    半導體是所有電子裝置的基礎。制造工藝和材料的發(fā)展推動了電路密度的提高，從而使芯片速度更高、面積更小、成本更低。隨著產品生命周期和收益高峰期的縮短，投放市場的時間成為市場制勝的關鍵因素。研發(fā)速度、生產效率、出廠速率直接影響了整個行業(yè)的發(fā)展速度。

    公司背景

    某半導體廠商依靠其先進的工藝技術(35nm)和世界級的設計、驗證環(huán)境，致力于設計最符合市場需求的高端半導體產品和方案。所設計的產品廣泛地被應用于消費類電子產品、網絡產品、電腦產品等。某廠是具創(chuàng)新精神和低成本的存儲解決方案供應商，一直致力于提高其客戶群，提高其在中國運用先進的半導體技術的地位。為了條研發(fā)、測試等工作環(huán)節(jié)效率是目前該廠碰到的最棘手的問題，ATEN宏正集中化控制解決方案可以協(xié)助該廠提高出廠測試的工作效率。

    挑戰(zhàn)和問題

    視頻共享，一位測試人員錄入測試數據，多位測試人員共同驗證測試結果。

    多操作系統(tǒng)支援。

    虛擬桌面技術。

    自適應顯示技術。

    多臺設備自動查看。

    ATEN宏正解決的問題

    連接端口分享模式支持多位使用者共同訪問一臺服務器。

    支持多平臺的客戶端系統(tǒng)(Windows、Mac OS X、Linux、Sun)。

    使用者可在同一個登入期間啟動多個虛擬遠程桌面以管理多臺服務器。

    支持全屏或可調整虛擬遠程桌面的窗口尺寸。

    支持同時輪巡顯示多臺測試設備狀態(tài)。

    ATEN宏正解決方案

    ATEN宏正集中化控制解決方案很好的解決了測試人員快速反應與操作環(huán)境惡劣的矛盾。KN2132提供靈活，多變的解決方案，可讓測試人員在遠程測試端即可完成出廠測試的工作環(huán)節(jié)。提高了成品出廠測試的效率，并且可以為測試人員提供更好的測試環(huán)境，避免了工廠測試車間惡劣的測試環(huán)境對于測試人員的電子輻射、噪音等的影響。