ATEN宏正助力某半導(dǎo)體廠(chǎng)測(cè)試車(chē)間集中控管

來(lái)源:投影時(shí)代 更新日期:2017-02-23 作者:佚名

    行業(yè)背景

    半導(dǎo)體是所有電子裝置的基礎(chǔ)。制造工藝和材料的發(fā)展推動(dòng)了電路密度的提高,從而使芯片速度更高、面積更小、成本更低。隨著產(chǎn)品生命周期和收益高峰期的縮短,投放市場(chǎng)的時(shí)間成為市場(chǎng)制勝的關(guān)鍵因素。研發(fā)速度、生產(chǎn)效率、出廠(chǎng)速率直接影響了整個(gè)行業(yè)的發(fā)展速度。

    公司背景

    某半導(dǎo)體廠(chǎng)商依靠其先進(jìn)的工藝技術(shù)(35nm)和世界級(jí)的設(shè)計(jì)、驗(yàn)證環(huán)境,致力于設(shè)計(jì)最符合市場(chǎng)需求的高端半導(dǎo)體產(chǎn)品和方案。所設(shè)計(jì)的產(chǎn)品廣泛地被應(yīng)用于消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品、網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品、電腦產(chǎn)品等。某廠(chǎng)是具創(chuàng)新精神和低成本的存儲(chǔ)解決方案供應(yīng)商,一直致力于提高其客戶(hù)群,提高其在中國(guó)運(yùn)用先進(jìn)的半導(dǎo)體技術(shù)的地位。為了條研發(fā)、測(cè)試等工作環(huán)節(jié)效率是目前該廠(chǎng)碰到的最棘手的問(wèn)題,ATEN宏正集中化控制解決方案可以協(xié)助該廠(chǎng)提高出廠(chǎng)測(cè)試的工作效率。

    挑戰(zhàn)和問(wèn)題

    視頻共享,一位測(cè)試人員錄入測(cè)試數(shù)據(jù),多位測(cè)試人員共同驗(yàn)證測(cè)試結(jié)果。

    多操作系統(tǒng)支援。

    虛擬桌面技術(shù)。

    自適應(yīng)顯示技術(shù)。

    多臺(tái)設(shè)備自動(dòng)查看。

    ATEN宏正解決的問(wèn)題

    連接端口分享模式支持多位使用者共同訪(fǎng)問(wèn)一臺(tái)服務(wù)器。

    支持多平臺(tái)的客戶(hù)端系統(tǒng)(Windows、Mac OS X、Linux、Sun)。

    使用者可在同一個(gè)登入期間啟動(dòng)多個(gè)虛擬遠(yuǎn)程桌面以管理多臺(tái)服務(wù)器。

    支持全屏或可調(diào)整虛擬遠(yuǎn)程桌面的窗口尺寸。

    支持同時(shí)輪巡顯示多臺(tái)測(cè)試設(shè)備狀態(tài)。

    ATEN宏正解決方案

ATEN宏正助力某半導(dǎo)體廠(chǎng)測(cè)試車(chē)間集中控管

ATEN宏正助力某半導(dǎo)體廠(chǎng)測(cè)試車(chē)間集中控管

    ATEN宏正集中化控制解決方案很好的解決了測(cè)試人員快速反應(yīng)與操作環(huán)境惡劣的矛盾。KN2132提供靈活,多變的解決方案,可讓測(cè)試人員在遠(yuǎn)程測(cè)試端即可完成出廠(chǎng)測(cè)試的工作環(huán)節(jié)。提高了成品出廠(chǎng)測(cè)試的效率,并且可以為測(cè)試人員提供更好的測(cè)試環(huán)境,避免了工廠(chǎng)測(cè)試車(chē)間惡劣的測(cè)試環(huán)境對(duì)于測(cè)試人員的電子輻射、噪音等的影響。

 標(biāo)簽:傳輸器 宏正 工程案例
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