LED顯示屏環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)的目的

    齊普光電在LED顯示屏產(chǎn)品研制和生產(chǎn)過(guò)程的不同階段開(kāi)展不同類型的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)，可以達(dá)到以下目的：

    1 確定產(chǎn)品耐環(huán)境應(yīng)力的工作極限和破壞極限，為設(shè)計(jì)提供依據(jù)。

    2 尋找系統(tǒng)性缺陷。在產(chǎn)品研制與生產(chǎn)初期，由于設(shè)計(jì)及有關(guān)文件規(guī)范存在問(wèn)題而造成的缺陷，如選材不當(dāng)，對(duì)環(huán)境應(yīng)力或工作應(yīng)力的考慮與現(xiàn)實(shí)不符等引起的隱患，用環(huán)境應(yīng)力極值最大限度地將設(shè)計(jì)缺陷激發(fā)出來(lái)，為改進(jìn)設(shè)計(jì)提供信息。

    3 驗(yàn)證糾正措施的有效性。

    4 驗(yàn)證產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性，為產(chǎn)品能否定型提供決策依據(jù)。

    5 驗(yàn)證生產(chǎn)設(shè)備、制造工藝對(duì)產(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)性的保證程度。

    6 剔除殘余缺陷。產(chǎn)品的研制、生產(chǎn)、裝卸、運(yùn)輸、貯存和安裝過(guò)程中，經(jīng)常存在著一些造成產(chǎn)品隱患的偶然因素，導(dǎo)致結(jié)構(gòu)、零組件損傷，這些因素造成的缺陷通常稱為殘余缺陷。對(duì)于這種缺陷，可采用環(huán)境應(yīng)力篩選或老化方式加以剔除。

    7 為產(chǎn)品進(jìn)行可靠性設(shè)計(jì)提供依據(jù)和信息。

    8 為產(chǎn)品進(jìn)行可靠性試驗(yàn)提供基礎(chǔ)。由于產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)建立在產(chǎn)品其它質(zhì)量指標(biāo)的基礎(chǔ)上，因此，只有當(dāng)產(chǎn)品通過(guò)性能試驗(yàn)與環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)并合格后，才能進(jìn)行可靠性試驗(yàn)。